掃描電鏡圖像噪聲主要來源多樣，不同類型噪聲的產生機制不同，抑制方法也有所差異。常見噪聲類型及對應抑制方法如下：

電子信號統計噪聲

來源：電子束在樣品上產生二次電子或背散射電子時，電子數量有限且隨機波動，導致信號本身有隨機起伏。

抑制方法：增加電子束電流，提高探測信號強度；延長掃描時間或累加多幀圖像以平均噪聲；使用探測器增益優化。

電氣噪聲

來源：探測器、放大器和電纜線路中產生的電子噪聲，如熱噪聲或電源干擾。

抑制方法：確保電子系統接地良好，減少干擾源；使用屏蔽電纜；在可能的情況下降低放大器噪聲；保持設備溫度穩定。

充電噪聲

來源：非導電樣品或局部絕緣區域積累電荷，產生局部電場，擾動電子束，導致圖像亮度隨機波動或斑點。

抑制方法：對樣品進行金屬噴鍍或導電處理；降低電子束電流和加速電壓；使用低真空模式或環繞導電膜。

機械振動噪聲

來源：樣品臺、電子槍或實驗室環境的振動引起圖像模糊或高頻噪聲。

抑制方法：使用減振平臺；確保設備安裝穩固；減少附近振動源干擾。

環境電磁干擾

來源：實驗室電器、磁場波動或強射頻干擾影響電子束偏轉和探測信號。

抑制方法：遠離強電磁源；使用屏蔽室或屏蔽罩；保證電源穩定。

圖像處理或數字噪聲

來源：信號采集后的數模轉換或圖像處理過程中引入的誤差。